齐齐哈尔扫描电镜的基本原理与实验方法有哪些内容

纳瑞科技（北京）有限公司(Ion Beam Technology Co.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。

扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种广泛用于研究微小物体的显微镜,其基本原理是利用电场扫描和磁场扫描技术将电子束聚焦在样品表面,并通过探测器测量电子束与样品之间的相互作用来获取样品的形貌和成分信息。

一、扫描电镜的基本原理

扫描电镜的工作原理可以简单概括为:样品→扫描电极→电场→磁场→探测器→计算机。

样品被置于扫描电极之间,电场将电子束聚焦在样品表面。这些电子束经过一系列的加速和减速过程,最终进入探测器。探测器会测量电子束与样品之间的相互作用,并将这些信息转化为图像。

扫描电极由两个金属电极组成,它们之间夹杂着高导电材料。当样品被放置在扫描电极之间时,两个电极之间就会形成一个电场。电场的作用是将电子束从样品表面扫描到探测器上,从而形成图像。

磁场用于控制电子束的运动。当电子束进入探测器时,磁场会将电子束偏转,使其沿着特定轨迹运动。这样就可以确保电子束能够聚焦在样品表面,并避免偏移。

二、扫描电镜的实验方法

要使用扫描电镜进行实验,需要准备以下步骤:

1. 准备扫描电镜:检查扫描电镜是否处于良好工作状态。如果需要,可以将扫描电镜送到专业人士那里进行维护。

2. 准备样品:将待观察的样品放置在扫描电极之间。在样品表面上涂覆一层适合于扫描电镜的样品。

3. 选择探测器:根据需要选择合适的探测器。常见的探测器包括热电子、能量色散、场发射和透射式探测器。

4. 选择磁透镜:根据需要选择合适的磁透镜。